Coater on liitiumpatareide esimeses etapis anoodi- ja katoodkatte põhivarustus. Nn kattekiht pärineb substraadist Coaterini katteni pärast substraadi kattest välja mitmeid pidevaid protsesse. "Hea töö tegemiseks peate kõigepealt masinat parandama", kiire, suure täpsusega, kõrge stabiilsusega kaasnevat kattega, võib põhjustada ühtlase paksuse, masti lehe kõrge konsistentsi, pannes aluse suurema võimsusega liitiumaku järgmiseks tootmiseks.
Coater Protsessi voog
Ülaltoodud protsess, nagu näiteks läbimõõt ja mähise läbimõõt, katte paksus ja täpsus, paranduse täpsus, on tegurid või parameetrid, mis mõjutavad liitiumaku aku anoodi ja katoodilehe katte jõudlust, mis nõuab andureid, mis aitaksid kaaterit täpselt jälgida ja tõhusalt jälgida!
Selles numbris mõistame Lambao anduri rakendamist Coater -is.
01 Katte paksuse tuvastamine
Lambao laservahemiku PDA -seeria on paigaldatud siirdejoone raja kohale, mis suudab täpselt tuvastada pooluse tüki esi-, kesk- ja tagaosa positiivse ja negatiivse lägakatte paksuse, et vältida liiga madalat või liiga suurt aku mahtu ja mõjutada aku kestvust.
02 Fooliumi katmine läbipainde parandamiseks
Lambaol CCD lineaarse läbimõõdu mõõtmise andurid paigaldatakse fooliumi söötmisele ja konveieriradadele. Võrreldes testitud väärtuse ja kavandatud väärtuse kõrvalekaldet, saab mähise serva kiiresti parandada, et vältida kattemasina viga ja parandada töötõhusust.
03 KILMI PAHETUSE AVALDUS
Lambao laservahemiku sensori PDB seeriad, mis on paigaldatud tootmisjoonele, suudab tuvastada ülejäänud mähise paksuse, suure täpsuse, kiire proovivõtu kiirus, suudab materjali ülejääki täpselt kontrollida, vältida mähise kile raiskamist.
Tänapäeval kasutavad paljud kliendid Lambao andureid automatiseeritud tootmise abistamiseks, mitte ainult tootmise tõhususe ja toote kvaliteedi parandamiseks, vaid saavutavad ka kulude vähendamise ja tõhususe eesmärgi. Tulevikus järgib Lambao andur algset kavatsust, heidavad kvaliteetseid andureid, et pakkuda Coaterit tootjatele kvaliteetseid teenuseid.
Soovitab
PDA-laser mõõteandur PDB-mõõdetav nihkeandurPDM-CCD-mõõdetud andurid
Postiaeg: 10. jaanuar-20123